PHI (China)Limited高德英特(北京)科技有限公司应用科学家鞠焕鑫博士做客瓯江学术论坛

2022年9月16日下午14点至17点，PHI (China)Limited高德英特(北京)科技有限公司应用科学家鞠焕鑫博士应邀来温州大学化学与材料工程学院，在11B-208作了题为“XPS表面分析技术原理、应用及数据处理漫谈”的讲座。报告由化材学院蔡冬博士主持，张剑教授以及各位青年老师、19-21级研究生到会参加。首先，化材学院蔡冬博士对鞠焕鑫博士的到来表示热烈欢迎，并向师生介绍了鞠焕鑫博士的基本情况。

讲座中鞠焕鑫博士重点讲述X射线光电子能谱的基本原理及其相关技术特点，重点分享了对于具有微米尺度结构特征的材料/器件进行XPS测试，如何实现对微区结构进行精准的XPS定位测试，避免环境对测试结果的影响；并讲解了对有机分子样品/器件进行XPS深度分析来研究不同深度下的元素组分和化学态信息时，如何减弱刻蚀离子束对样品化学结构的破坏作用、对导电性较差的样品进行XPS测试时，如果消除荷电效应和进行数据处理等。鞠焕鑫博士的讲解很大程度上解决了同学们平时在实验XPS测试中测试难、数据处理不标准等问题。

鞠焕鑫博士的学术报告吸引了大家的浓厚兴趣，报告过程中气氛活跃，同学们踊跃提出、回答问题。讲座后，鞠焕鑫博士与学院师生进行了深入交流，使与会师生受益匪浅。